A RAMANtouch konfokális Raman mikroszkóp szabadalmaztatott lézerszkennelési technológiájának köszönhetően a világ leggyorsabb, kiváló minőségű Raman‑képalkotását biztosítja.
A RAMANtouch raman mikroszkóp a konfokális Raman‑képalkotás új mércéje: villámgyors, precíz és kompromisszummentes.
A Nanophoton innovatív technológiája a line-shaped lézergerjesztést nagy érzékenységű, kétdimenziós CCD‑vel ötvözi, így egyetlen expozícióval akár 400 spektrumot is rögzít. A galvanométeres lézerszkennelésnek köszönhetően percek alatt több százezer pixelnyi, kristálytiszta Raman‑képet kapunk – mindezt EMCCD nélkül.
Thank you for reading this post, don't forget to subscribe!
A valódi Raman‑képalkotás korszaka megérkezett.
A RAMANtouch teljesen új megközelítést kínál a hagyományos Raman‑mikroszkópokhoz képest – és éppen ezért képes arra, amit eddig lehetetlennek hittünk: maximális képalkotási sebességre kompromisszumok nélkül. Nincs minőségromlás, nincs felbontásvesztés – csak tiszta, gyors és precíz Raman‑képalkotás.
A RAMANtouch előnyei:
Ultragyors Raman‑képalkotás
Kiemelkedő spektrális és térbeli felbontás
Teljesen automatizált hardver
Erőteljes 2D/3D Raman‑kép elemző szoftver
Automatikus kalibráció és automatikus igazítás
Galvanométeres lézerszkennelés – műszaki magyarázat
A galvanométeres tükörrel megvalósított lézerszkennelés olyan optikai pásztázási eljárás, amelyben a fókuszált lézersugár pozícióját gyorsan mozgatható, nagy pontosságú galvanométeres tükörpárral határozzák meg. Ennek eredményeként a vizsgált pont a tárgylencse alatt a tágyasztal mechanikus mozgatása nélkül pásztázható. A módszer jelentősen nagyobb pozicionálási sebességet és ismétlési pontosságot biztosít, mint a hagyományos „tárgyasztalmozgatáson” alapuló rendszerek.
Ezen felül a pásztázási geometria úgy van kialakítva, hogy a lézersugár a teljes látómezőben – akár annak közepén, akár a peremén – mindig közel merőlegesen érkezik a megfigyelési síkra. Ez a konstans beesési szög javítja a mérési stabilitást és az optikai torzítások minimalizálását, és lehetővé teszi több speciális Raman‑mérési üzemmód alkalmazását.
Támogatott mérési módok:
Laser Line Scanning
A lézervonal a galvanométeres tükrök segítségével nagy sebességgel végigsöpri a mintafelületet.Ez a mód különösen hatékony nagy területű spektroszkópiai térképezésnél.
Fő jellemzők: – nagy spektrális és térbeli felbontás,
– maximális adatgyűjtési sebesség,
– minimális mechanikai igénybevétel, mivel nincs tárgyasztal‑mozgás.
Point Scanning
A rendszer csak azokat a mérési pontokat vizsgálja, amelyek Raman‑spektrumában valódi kontraszt vagy eltérés detektálható.
Előnyei: – gyors áttekintő leképezés,
– adatgyűjtés optimalizálása felesleges mérések elhagyásával,
– nagy elemszámú területek hatékony szűrése.
AreaFlash Measurement
A lézervonal „végigvillanása” a teljes látómezőn egy átlagos Raman‑spektrumot eredményez az egész mérési területre.
Alkalmazási előnyök: – nagyméretű felületek ultra‑gyors vizsgálata,
– gyors előszűrés vagy anyagazonosítás,
– rövid expozíciós idővel kivitelezhető, alacsony mechanikai terheléssel.
Laser Line Mode
Ultragyors Raman‑képalkotás vonalmenti megvilágítással
A lineáris lézerexcitáció lehetővé teszi nagy területű spektrális leképezések gyors végrehajtását, jelentős időmegtakarítással.
Homogén, torzításmentes lézervonal a teljes látómezőben
A lézervonal intenzitásprofilja stabil és egyenletes marad a képmező közepétől a szélekig, biztosítva a mérési adatok konzisztenciáját.
EMCCD használata nélkül
A rendszer nagy érzékenységű adatgyűjtést biztosít speciális, zajcsökkentett detektorok nélkül is, egyszerűbb és költséghatékonyabb felépítéssel.
Laser Point Mode
Tökéletes fókuszpont a látómező teljes területén
A galvanométeres pásztázásnak köszönhetően a fókuszfolt alakja és mérete minimális torzítással marad konzisztenst még a látómező peremén is.
Többszázszoros sebesség a motoros tárgyasztalhoz képest
A lézerpont pásztázása nagyságrendekkel gyorsabb a mechanikus mozgatási rendszereknél, különösen nagy felbontású vagy sűrű ponttérképezés esetén.
Akár 10 nm pozicionálási pontosság
A galvanométeres rendszer finom szögbeállítása rendkívül nagy pozicionálási precizitást tesz lehetővé, amely elegendő a legigényesebb mikrospektroszkópiai alkalmazásokhoz is.
Kiemelkedő 3D Raman‑képalkotási képességek
A konfokális optikai rendszer lehetővé teszi a mintán belüli, roncsolásmentes Raman‑analízist, így akár teljes, háromdimenziós Raman‑képek is létrehozhatók átlátszó anyagokról.
A RAMANtouch vonalmenti megvilágítással és nagy pontosságú mozgatórendszerével példátlan sebességű és minőségű 3D Raman‑térképeket készít. Ennek köszönhetően részletes képet kaphatunk a minták belső szerkezetéről, összetevőinek eloszlásáról és mikroszkopikus anyagtulajdonságairól.
Videópélda – Raman betekintés a szál belsejébe(video)
Minta: kétkomponensű szál – PE (köpeny) és PET (mag)
Mérési idő: ~20–30 perc
Sárga pontok: TiO₂ részecskék
A videó jól szemlélteti, hogyan képes a RAMANtouch feltárni az átlátszó szál belső struktúráját, elkülöníteni az anyagfázisokat és kimutatni a finom adalékanyag‑eloszlást is.
Csúcs Raman képalkotási felbontás.
A mélységprofilozó Raman képalkotás az XZ síkban lehetővé teszi a roncsolásmentes elemzést, például a többrétegű filmek vizsgálatát.
Az olajimmerziós objektívlencse használata jelentősen növeli a térbeli felbontást, lehetővé téve akár 250 nm-es ultravékony rétegek detektálását.
Lépjen be a nanométeres tartományba.
A Raman‑mikroszkópia kulcsfontosságú információkat nyújt szerves és szervetlen anyagok azonosításához, valamint a kristályos módosulatok pontos megkülönböztetéséhez.
A technika számos előnyt kínál az IR‑mikroszkópiával szemben:
submikrométeres térbeli felbontás, amely lehetővé teszi a legkisebb struktúrák vizsgálatát is,
a minták vizes közegben történő elemzése, előkészítés nélkül, természetes állapotukban.
A RAMANtouch raman mikroszkóp a konfokális Raman‑képalkotás új mércéje: villámgyors, precíz és kompromisszummentes.
A Nanophoton innovatív technológiája a line-shaped lézergerjesztést nagy érzékenységű, kétdimenziós CCD‑vel ötvözi, így egyetlen expozícióval akár 400 spektrumot is rögzít. A galvanométeres lézerszkennelésnek köszönhetően percek alatt több százezer pixelnyi, kristálytiszta Raman‑képet kapunk – mindezt EMCCD nélkül.
A valódi Raman‑képalkotás korszaka megérkezett.
A RAMANtouch teljesen új megközelítést kínál a hagyományos Raman‑mikroszkópokhoz képest – és éppen ezért képes arra, amit eddig lehetetlennek hittünk: maximális képalkotási sebességre kompromisszumok nélkül. Nincs minőségromlás, nincs felbontásvesztés – csak tiszta, gyors és precíz Raman‑képalkotás.
A RAMANtouch előnyei:
Ultragyors Raman‑képalkotás
Kiemelkedő spektrális és térbeli felbontás
Teljesen automatizált hardver
Erőteljes 2D/3D Raman‑kép elemző szoftver
Automatikus kalibráció és automatikus igazítás
Galvanométeres lézerszkennelés – műszaki magyarázat
A galvanométeres tükörrel megvalósított lézerszkennelés olyan optikai pásztázási eljárás, amelyben a fókuszált lézersugár pozícióját gyorsan mozgatható, nagy pontosságú galvanométeres tükörpárral határozzák meg. Ennek eredményeként a vizsgált pont a tárgylencse alatt a tágyasztal mechanikus mozgatása nélkül pásztázható. A módszer jelentősen nagyobb pozicionálási sebességet és ismétlési pontosságot biztosít, mint a hagyományos „tárgyasztalmozgatáson” alapuló rendszerek.
Ezen felül a pásztázási geometria úgy van kialakítva, hogy a lézersugár a teljes látómezőben – akár annak közepén, akár a peremén – mindig közel merőlegesen érkezik a megfigyelési síkra. Ez a konstans beesési szög javítja a mérési stabilitást és az optikai torzítások minimalizálását, és lehetővé teszi több speciális Raman‑mérési üzemmód alkalmazását.
Támogatott mérési módok:
Laser Line Scanning
A lézervonal a galvanométeres tükrök segítségével nagy sebességgel végigsöpri a mintafelületet.Ez a mód különösen hatékony nagy területű spektroszkópiai térképezésnél.
Fő jellemzők: – nagy spektrális és térbeli felbontás,
– maximális adatgyűjtési sebesség,
– minimális mechanikai igénybevétel, mivel nincs tárgyasztal‑mozgás.
Point Scanning
A rendszer csak azokat a mérési pontokat vizsgálja, amelyek Raman‑spektrumában valódi kontraszt vagy eltérés detektálható.
Előnyei: – gyors áttekintő leképezés,
– adatgyűjtés optimalizálása felesleges mérések elhagyásával,
– nagy elemszámú területek hatékony szűrése.
AreaFlash Measurement
A lézervonal „végigvillanása” a teljes látómezőn egy átlagos Raman‑spektrumot eredményez az egész mérési területre.
Alkalmazási előnyök: – nagyméretű felületek ultra‑gyors vizsgálata,
– gyors előszűrés vagy anyagazonosítás,
– rövid expozíciós idővel kivitelezhető, alacsony mechanikai terheléssel.
Laser Line Mode
Ultragyors Raman‑képalkotás vonalmenti megvilágítással
A lineáris lézerexcitáció lehetővé teszi nagy területű spektrális leképezések gyors végrehajtását, jelentős időmegtakarítással.
Homogén, torzításmentes lézervonal a teljes látómezőben
A lézervonal intenzitásprofilja stabil és egyenletes marad a képmező közepétől a szélekig, biztosítva a mérési adatok konzisztenciáját.
EMCCD használata nélkül
A rendszer nagy érzékenységű adatgyűjtést biztosít speciális, zajcsökkentett detektorok nélkül is, egyszerűbb és költséghatékonyabb felépítéssel.
Laser Point Mode
Tökéletes fókuszpont a látómező teljes területén
A galvanométeres pásztázásnak köszönhetően a fókuszfolt alakja és mérete minimális torzítással marad konzisztenst még a látómező peremén is.
Többszázszoros sebesség a motoros tárgyasztalhoz képest
A lézerpont pásztázása nagyságrendekkel gyorsabb a mechanikus mozgatási rendszereknél, különösen nagy felbontású vagy sűrű ponttérképezés esetén.
Akár 10 nm pozicionálási pontosság
A galvanométeres rendszer finom szögbeállítása rendkívül nagy pozicionálási precizitást tesz lehetővé, amely elegendő a legigényesebb mikrospektroszkópiai alkalmazásokhoz is.
Kiemelkedő 3D Raman‑képalkotási képességek
A konfokális optikai rendszer lehetővé teszi a mintán belüli, roncsolásmentes Raman‑analízist, így akár teljes, háromdimenziós Raman‑képek is létrehozhatók átlátszó anyagokról.
A RAMANtouch vonalmenti megvilágítással és nagy pontosságú mozgatórendszerével példátlan sebességű és minőségű 3D Raman‑térképeket készít. Ennek köszönhetően részletes képet kaphatunk a minták belső szerkezetéről, összetevőinek eloszlásáról és mikroszkopikus anyagtulajdonságairól.
Videópélda – Raman betekintés a szál belsejébe(video)
Minta: kétkomponensű szál – PE (köpeny) és PET (mag)
Mérési idő: ~20–30 perc
Sárga pontok: TiO₂ részecskék
A videó jól szemlélteti, hogyan képes a RAMANtouch feltárni az átlátszó szál belső struktúráját, elkülöníteni az anyagfázisokat és kimutatni a finom adalékanyag‑eloszlást is.
Csúcs Raman képalkotási felbontás.
A mélységprofilozó Raman képalkotás az XZ síkban lehetővé teszi a roncsolásmentes elemzést, például a többrétegű filmek vizsgálatát.
Az olajimmerziós objektívlencse használata jelentősen növeli a térbeli felbontást, lehetővé téve akár 250 nm-es ultravékony rétegek detektálását.
Lépjen be a nanométeres tartományba.
A Raman‑mikroszkópia kulcsfontosságú információkat nyújt szerves és szervetlen anyagok azonosításához, valamint a kristályos módosulatok pontos megkülönböztetéséhez.
A technika számos előnyt kínál az IR‑mikroszkópiával szemben:
submikrométeres térbeli felbontás, amely lehetővé teszi a legkisebb struktúrák vizsgálatát is,
a minták vizes közegben történő elemzése, előkészítés nélkül, természetes állapotukban.
A gyógyszeriparban a Raman-mikroszkópia pontosan ellenőrzi a készítményeket, értékeli a termékminőséget és elemzi az összetevők eloszlását.
Akkumulátorgyártás és kutatás
Az akkumulátorkutatásban és az iparban a Raman-spektroszkópiát az elektróda stabilitásának és a kötőanyag hatékonyságának felmérésére alkalmazzák, elősegítve a teljesítmény optimalizálását.
Szilícium és félvezetők
A szilícium-félvezető anyagokban a Raman segíti a hibák észlelését, a gyártás optimalizálását és a teljesítmény növelését, biztosítva az eszközök hatékony működését.
Élettudomány
Az élettudományokban a Raman segít a betegségek diagnosztizálásában, a biomolekulák tanulmányozásában, a sejtfolyamatok megértésében és a biológiai minták szerkezeti elemzésében.
Ásványok és szervetlen anyagok
A Raman-spektroszkópia képes elemezni a kristályszerkezetet, a fázisazonosítást, az összetételt és a hibákat szervetlen anyagokban és ásványokban.
Nano Carbon Materials
A Raman mikroszkópia segíti a nanokarbon kutatását és ipart, elemzi a grafén minőségét a CVD-termelésben, és jellemzi a szén nanocsöveket az elektronika optimalizálása érdekében.
Polimerek és műanyagok
A polimer- és gyantakutatásban és az iparban a Raman-spektroszkópiát az anyagok elemzésére és jellemzésére használják, például a gyanta kikeményedési fokának és eloszlásának értékelésére.
Élelmiszeripar
A Raman-t az élelmiszertudományban alkalmazzák a minőségellenőrzés, a szennyeződések kimutatása, a tápanyag-elemzés és az élelmiszer-összetétel megértése céljából.
A RAMANwalk egy innovatív felépítésű konfokális Raman mikroszkóp, amely forradalmi megközelítést kínál a Raman‑képalkotásban: rendkívül gyorsan, mégis kiemelkedő spektrális minőségben képes intelligens áttekintő és előnézeti képeket készíteni.
A SENTERRA II egy konfokális Raman-mikroszkóp, amelyet egyszerű, folyamatos működésre terveztek. Magas szintű automatizálása lehetővé teszi a gyors és egyszerű Raman-képalkotást hibaelemzéshez, minőségellenőrzéshez és tudományos kutatáshoz.
